論文 - 井上　雅彦

A System for Detecting Metal Atoms Ejected from Solid Surfaces by Means of Multiphoton Resonance Ionization

*M. YAMADA, M. INOUE, K. MORITA, S. NADAHARA, M. WATANABE

Japanese Journal of Applied Physics29   L1720-L1722   1990年07月

共著

Cesium Effect on Ion-induced Secondary Photon Emission from GaAs Surface

M. INOUE, Y. SUGIYAMA, S. NISHIGAKI, T. NODA

Surface Science209   L157-L162   1989年02月

共著

Properties of DC Mode Field Emission of Electrons from Liquid Lithium Cathode

K. HATA, S. NISHIGAKI, M. INOUE, T. NODA

Journal de Physique49   125 - 130   1988年12月

共著

Sequential SIMS-ISS Measurement Using a Double Focusing Mass Spectrometer

M. INOUE, Y. SUGIYAMA, S. NISHIGAKI, T. NODA

Applied Surface Science33/34   138 - 142   1988年10月

共著

Oxygen Effects on Ion-induced Secondary Ion and Photon Emissions from GaAs and Ga Surfaces

M. INOUE, Y. SUGIYAMA, S. NISHIGAKI, T. NODA

Nuclear Instruments and MethodsB33   519 - 522   1988年10月

共著

試料電圧印加式イオン散乱分光

杉山安彦，井上雅彦，西垣敏，野田保

真空31   845 - 849   1988年06月

共著

SIMS-SCANIIR法における酸素の増感作用

井上雅彦，杉山安彦，西垣敏，野田保

質量分析36   11月15日   1988年02月

共著

Steady and Explosion Modes in Electron Emission from Liquid Metal Source

K HATA, S.NISHIGAKI, M.INOUE, T.NODA, H.TAMURA

Jornal de Physique48   177 - 182   1987年12月

共著

Ion Scattering Spectroscopy using a Double Focusing Mass Spectrometer of an Ion Microprobe Analyzer

M. INOUE, Y. SUGIYAMA, S. NISHIGAKI, T. NODA

Proc. of 2nd Japan-China Symposium on Mass Spectrometry   57 - 60   1987年09月

共著

Secondary Electron Spectra Changes and Work Function Measurements for Oxygen on Ni(111)

Masahiko INOUE

Japanese Journal of Applied Physics26   300 - 301   1986年11月

単著

Two Step Adsorption Process of Hydrogen on Ni(111) Surface

Masahiko INOUE, Kazuyuki UEDA

Japanese Journal of Applied Physics25   802 - 806   1986年03月

共著

Interaction between Kikuchi Lines and Surface Waves in RHEED Pattern of Si(001) Surface

Masahiko INOUE, Kazuyuki UEDA

Japanese Journal of Applied Physics25   165 - 166   1985年11月

共著

A Study of Surface Defect of Si(511) Surface

Kazuyuki UEDA, Masahiko INOUE

Surface Science161   L578-L582   1985年06月

共著

A Simple Method for Simulation of RHEED Pattern

M. INOUE, K. UEDA, H. HASHIMOTO

Technology Reports of Osaka University35   29 - 35   1984年08月

共著

CO/Mo系における電子励起脱離の研究

上田一之，井上雅彦

真空27   530 - 534   1984年06月

共著

RHEEDパタンによる表面構造の解析法について

井上雅彦，上田一之

真空27   19 - 23   1984年01月

共著