論文 - 井上 雅彦
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走査型電子顕微鏡を用いた摂南大学寝屋川キャンパスにおける環境微粒子の高さ分布計測 -マイクロプラスチック，黄砂 -
井上雅彦，辻本大稀，辻中隆宏
摂南大学融合科学研究所論文集10 ( 1 ) 109 - 120 2025年02月
共著
研究計画，議論，論文まとめ
研究論文（大学，研究機関等紀要）
担当区分： 筆頭著者 責任著者
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開発した低周波オフセット変調法によるRF放電プラズマ中に浮遊した微粒子の質量電荷比の計測
井上雅彦，高山大輔，廣大輔，朴商云，唐木裕馬，田口俊弘
摂南大学 融合科学研究所 論文集9 ( 1 ) 47 - 53 2024年02月
共著
研究論文（大学，研究機関等紀要）
担当区分： 筆頭著者 責任著者
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Luminous, relativistic, directional electron bunches from an intense laser driven grating plasma
Amit D. Lad, Y. Mishima, Prashant Kumar Singh, Boyuan Li, Amitava Adak, Gourab Chatterjee, P. Brijesh, Malay Dalui, M. Inoue, J. Jha, Sheroy Tata, M. Trivikram, M. Krishnamurthy, Min Chen, Z. M. Sheng, K. A. Tanaka, G. Ravindra Kumar, H. Habara
Scientific Reports12 ( 1 ) 16818 (2022) 2022年10月
共著
研究論文（学術雑誌）
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固相微粒子プラズマの発生と浮遊する微粒子の回収
井上雅彦，唐木裕馬、陳天鵬
融合科学研究所論文集5 ( 1 ) - 57 2019年12月
共著
研究論文（大学，研究機関等紀要）
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アカムシユスリカ幼虫の高真空耐性と電子線照射効果
井上雅彦，林田宗志，繁田勧介
摂南大学融合科学研究所論文集1 ( 1 ) 29 - 37 2015年10月
共著
研究論文（大学，研究機関等紀要）
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高強度レーザー誘起表面プラズモン共鳴による高速電子の高効率生成
三島陽介、羽原英明、Prashant K. SINGH、Amitave ADAK、Gourab CHATTERJEE、Amit D. LAD、P.BRIJES_H、Malay DALUI、井上雅彦、J.JHA、Sheroy TATA、T.Madhu TRIVILRAM、M.KRISHNAMURTHY、G.Ravindra KUMAR、田中和夫
レーザー研究43 ( 9 ) 638 - 642 2015年09月
共著
研究論文（学術雑誌）
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電池駆動モバイル走査電子顕微鏡の開発
井上雅彦
ケミカルエンジニアリング59 ( 3 ) 186 - 190 2014年03月
単著
研究論文（学術雑誌）
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走査電子顕微鏡を用いた水生微生物観察のための簡易試料前処理法
井上雅彦，菅波昌広
Journal of Surface Analysis19 ( 2 ) 81 - 84 2012年12月
共著
研究論文（学術雑誌）
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Application of Ionic Liquid Coating Method to Observation of Non-conductive Samples by a Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education
*M. Inoue, M. Suganami, Y. Hashimoto, T. Iyasu, H. Saito, K. Moriguchi, T. Tanaka
Journal of Surface Analysis18 ( 2 ) 105 2011年11月
共著
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Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method
*M. Inoue, T.Miyagawa, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
Journal of Surface Analysis18 ( 2 ) 110 2011年11月
共著
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Development of a Mobile Scanning Electron Microscope for Elementary Science Education
M.Inoue, Y. Hashimoto,T.Iyasu, H.Saito, T.Tanaka
JSPS 141 Committee Activity Report 253 - 254 2009年12月
共著
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Oxygen Enhanced Surface Roughening of Si(111) induced by Low energy Xe+ Ion Sputtering
T. MIYAGAWA, T. ARIMA, M. INOUE
Journal of Surface Analysis13 325 - 328 2009年03月
共著
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A study of theoretical depth resolution of GaAs/AlAs reference material with low energy inert gas ions by Monte Carlo simulations
H. BANDO, K. TAMURA, R. SHIMIZU, M. INOUE
Surface and Interface Analysis39 9月15日 2007年01月
共著
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A novel approach to derive absorption coefficient of secondary electron as applied to Ti and TiO2
T. IYASU, M. INOUE, H. YOSHIKAWA, R. SHIMIZU
Surface and Interface Analysis38 ( 12月13日 ) 1670 - 1674 2006年12月
共著
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Experimental Studies of Secondary Electron Emission of TiO2 and Ti
T. IYASU, M. Inoue, H. YOSHIKAWA, R.SHIMIZU
Japanese Journal of Applied Physics45 7879 - 7880 2006年10月
共著
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SERD プロジェクト報告（2005）
新谷 龍二 , 井上 雅彦 , SERDプロジェクトグループ
Jouenl od Surface Analysis13 ( 1 ) 2 - 5 2005年11月
共著
研究論文（学術雑誌）
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High-resolution Auger depth pfofiling by sub-keV ion sputtering
M. Inoue, R. Shimizu, H.I. LEE, H.J. Kang
Surface and Interface Analysis37 ( 2 ) 1670170 2005年02月
共著
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深さ方向分析法に関する国際標準化と国内活動
鈴木峰春，井上雅彦
真空48 255 - 260 2004年09月
共著
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二酸化シリコン薄膜（SiO2）の電子線照射損傷を定量的に評価する
木村隆 , 西田憲二 , 田沼繁夫 , 井上雅彦 , 鈴木峰春 , 橋本哲 , 三浦薫
表面化学25 ( 4 ) 212 - 216 2003年12月
共著
研究論文（学術雑誌）
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同軸試料台と速微小電流計を用いたスパッタ深さ方向分析用イオンビームの収束および位置合わせ
井上雅彦，倉橋和之，児玉圭司
Journal of Surface Analysis10 ( 3 ) 197 - 202 2003年09月
共著