研究発表 - 井上 雅彦
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工学部入学予定者のための短期スクーリングの実施
第５４回工学・工業教育研究会 口頭発表（一般）
2006年07月 -
ＡＥＳ，ＸＰＳ分析における空間分解能と分析領域の決定法
実用表面分析セミナ’０６?ＩＳＯ規格を基礎とした表面分析の実際? その他
2006年07月【発表要旨集】 セミナーテキスト 2006年07月
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Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of GaAs/AlAs Superlattice
2nd International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology, SMAM-2 国際会議 ポスター発表
2006年05月 -
低速イオンビームによる Depth Profiling のモンテカルロシミュレーション（２）選択スパッタリングの効果
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 国内会議 口頭発表（一般）
2006年03月 -
二次電子放出に関するデータベース構築（２） Ti & TiO2 の計測による二次電子吸収係数 α と二次電子生成係数 k の決定
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 国内会議 口頭発表（一般）
2006年03月 -
低速イオンビームによる Depth Profiling のモンテカルロシミュレーション（１） Theoretical depth resolution
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 国内会議 口頭発表（一般）
2006年03月 -
学習支援センターの現状と発展
第12回摂南大学工学部FDフォーラム 第12回摂南大学 国内会議 口頭発表（一般）
2006年03月 -
Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of a GaAs/AlAs Superlattice Sample by Low Energy Ion Sputtering
Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of a GaAs/AlAs Superlattice Sample by Low Energy Ion Sputtering The Big-Island, Hawaii, U.S.A. 国際会議 口頭発表（一般）
2005年11月 -
高分解能深さ方向分析のための C60 クラスターイオン源の試作
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 国内会議 ポスター発表
2005年10月 -
低速 Xe+ イオンビームを用いた GaAs/AlAs 試料のスパッタオージェ深さ方向分析
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 国内会議 ポスター発表
2005年10月 -
He+ および Xe+ によるイオン誘起二次電子エネルギー分布の表面酸素濃度依存性
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 国内会議 ポスター発表
2005年10月 -
工学基礎科目に対する学習支援の取り組み - 支援プログラムにおける工夫と学習効果 -
日本工学教育協会53回工学・工業教育研究講演会 国内会議 口頭発表（一般）
2005年09月 -
新 SERD サーバの紹介
表面分析研究会 第25回定例会 国内会議 口頭発表（一般）
2005年03月 -
Evaluation of Surface Roughness at Low-energy Ion Sputtering -Roughness Decreasing by Ozone Exposure
3rd International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-04 Jeju, Korea 国際会議 口頭発表（一般）
2004年10月-2014年10月 -
Effect of the Mesh Pitch and the Ion Beam Raster Size on the Sputter Etching Rate of SiO2 measured by the Mesh-Replica method
3rd International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-04 Jeju, Korea 国際会議 口頭発表（一般）
2004年10月 -
摂南大学工学部学習支援センターの開設
日本工学教育協会 第52回工学・工業教育講演会 国内会議 口頭発表（一般）
2004年07月 -
深さ方向分析の最適化，界面分解能，定性・定量分析の国際標準化
応用物理学会 第51回応用物理関係連合講演会（シンポジウム講演） 国内会議 口頭発表（一般）
2004年03月 -
Auger Depth Profiling of GaAs/AlAs Sputter Lattice Sample by Low Energy Ion Sputtering
1st International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology, Tokyo Big Sight, Ariake, Tokyo, Japan 国際会議 口頭発表（一般）
2004年03月 -
低エネルギースパッタリングによる高分解能AES深さ方向分析
2003年度実用表面分析講演会 PSA-03 国内会議 ポスター発表
2003年11月 -
同軸試料台を用いたイオンビームの収束及び位置合わせ
2003年度実用表面分析講演会 PSA-03 国内会議 ポスター発表
2003年11月