Presentations -
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工学部入学予定者のための短期スクーリングの実施
第５４回工学・工業教育研究会 Oral presentation (general)
2006.07 -
ＡＥＳ，ＸＰＳ分析における空間分解能と分析領域の決定法
実用表面分析セミナ’０６?ＩＳＯ規格を基礎とした表面分析の実際? Other
2006.07[Proceedings] セミナーテキスト 2006.07
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Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of GaAs/AlAs Superlattice
2nd International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology, SMAM-2 International presentation Poster presentation
2006.05 -
低速イオンビームによる Depth Profiling のモンテカルロシミュレーション（２）選択スパッタリングの効果
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2006.03 -
二次電子放出に関するデータベース構築（２） Ti & TiO2 の計測による二次電子吸収係数 α と二次電子生成係数 k の決定
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2006.03 -
低速イオンビームによる Depth Profiling のモンテカルロシミュレーション（１） Theoretical depth resolution
応用物理学会 第53回応用物理学関係連合講演会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2006.03 -
学習支援センターの現状と発展
第12回摂南大学工学部FDフォーラム 第12回摂南大学 Domestic presentation Oral presentation (general)
2006.03 -
Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of a GaAs/AlAs Superlattice Sample by Low Energy Ion Sputtering
Effect of Preferential Sputtering on Auger Depth Profiling of a GaAs/AlAs Superlattice Sample by Low Energy Ion Sputtering The Big-Island, Hawaii, U.S.A. International presentation Oral presentation (general)
2005.11 -
高分解能深さ方向分析のための C60 クラスターイオン源の試作
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 Domestic presentation Poster presentation
2005.10 -
低速 Xe+ イオンビームを用いた GaAs/AlAs 試料のスパッタオージェ深さ方向分析
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 Domestic presentation Poster presentation
2005.10 -
He+ および Xe+ によるイオン誘起二次電子エネルギー分布の表面酸素濃度依存性
2005年度実用表面分析講演会 PSA-05 Domestic presentation Poster presentation
2005.10 -
工学基礎科目に対する学習支援の取り組み - 支援プログラムにおける工夫と学習効果 -
日本工学教育協会53回工学・工業教育研究講演会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2005.09 -
新 SERD サーバの紹介
表面分析研究会 第25回定例会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2005.03 -
Evaluation of Surface Roughness at Low-energy Ion Sputtering -Roughness Decreasing by Ozone Exposure
3rd International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-04 Jeju, Korea International presentation Oral presentation (general)
2004.10-2014.10 -
Effect of the Mesh Pitch and the Ion Beam Raster Size on the Sputter Etching Rate of SiO2 measured by the Mesh-Replica method
3rd International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-04 Jeju, Korea International presentation Oral presentation (general)
2004.10 -
摂南大学工学部学習支援センターの開設
日本工学教育協会 第52回工学・工業教育講演会 Domestic presentation Oral presentation (general)
2004.07 -
深さ方向分析の最適化，界面分解能，定性・定量分析の国際標準化
応用物理学会 第51回応用物理関係連合講演会（シンポジウム講演） Domestic presentation Oral presentation (general)
2004.03 -
Auger Depth Profiling of GaAs/AlAs Sputter Lattice Sample by Low Energy Ion Sputtering
1st International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology Tokyo Big Sight, Ariake, Tokyo, Japan International presentation Oral presentation (general)
2004.03 -
低エネルギースパッタリングによる高分解能AES深さ方向分析
2003年度実用表面分析講演会 PSA-03 Domestic presentation Poster presentation
2003.11 -
同軸試料台を用いたイオンビームの収束及び位置合わせ
2003年度実用表面分析講演会 PSA-03 Domestic presentation Poster presentation
2003.11